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机械工程学会摩擦学分会 固体润滑国家重点实验室 摩擦学学报
一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法
专利摘要

一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法，包括以下步骤：(1)采用X射线光电子能谱仪对材料进行特征X射线光电子能谱及价带谱的扫描，得到高分辨的谱图测试特征X射线光电子能谱及价带谱；(2)从所述的测试特征X射线光电子能谱及价带谱谱图上识别出材料中各元素特征峰的位置，并以切线相交方式从步骤(1)检测的价带谱得到材料的测试带隙数值；(3)查阅文献及书籍，得到材料的标准带隙数值；(4)将所述的标准带隙数值减去所述的测试带隙值得到的差值进行移动，得到材料真实的特征X射线光电子能谱。本发明采用价带谱进行X射线光电子能谱校正，发展了X射线光电子能谱校正的方法，得到了材料真实的特征X射线光电子能谱。 ......

基本信息
  • 专利类型:

    发明专利

  • 申请/专利号:

    CN202010960652.5

  • 申请日期:

    2020-09-14

  • 专利申请人:

    ["中国科学院兰州化学物理研究所","青岛市资源化学与新材料研究中心"]

  • 分类号:

    G01N23/2273

  • 发明/设计人:

    刘建 ， 郝俊英 ， 刘维民

  • 权利要求: 1.一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）采用X射线光电子能谱仪对材料进行特征X射线光电子能谱及价带谱的扫描，扫描的步长为0.05eV，得到高分辨的谱图；（2）从步骤（1）检测的谱图上识别出材料中各元素特征峰的位置，并以切线相交方式从步骤（1）检测的价带谱得到材料的测试带隙数值；（3）查阅文献及书籍，得到材料的标准带隙数值；（4）将所述的标准带隙数值减去所述的测试带隙值得到的差值进行移动，得到材料真实的特征X射线光电子能谱。
原文

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